優(yōu)睿譜半導體設備（無錫）有限公司半導體量測設備研發(fā)及性能調試項目竣工環(huán)境保護驗收監(jiān)測報告表

發(fā)布者：無錫市科泓環(huán)境工程技術有限責任公司發(fā)布時間：1/21/2026 2:49:51 PM 點擊次數：690 關閉

根據《國務院關于修改〈建設項目竣工環(huán)境保護管理條例〉的決定》(國務院令第682號)，以及環(huán)保部《關于發(fā)布<建設項目竣工環(huán)境保護驗收暫行辦法>的公告》(國環(huán)規(guī)環(huán)評[2017]4號)，現將優(yōu)睿譜半導體設備（無錫）有限公司“半導體量測設備研發(fā)及性能調試項目”內容公示如下：
項目名稱：半導體量測設備研發(fā)及性能調試項目
地點：無錫市新吳區(qū)新安街道菱湖大道288號天安智慧城38棟
建設單位：優(yōu)睿譜半導體設備（無錫）有限公司
建設內容：竣工驗收報告及驗收意見，詳見附件。
公示時間：2026年1月21日至2026年2月26日

聯(lián)系人：姜工

半導體量測設備研發(fā)及性能調試項目

驗收意見—優(yōu)睿譜半導體設備（無錫）有限公司

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